XRF-2000電鍍測(cè)厚儀韓國先鋒膜厚儀

通過

從樣品上反射出來的第二次X射線強(qiáng)度

來測(cè)量鍍層等金屬鍍層的厚度。

金屬鍍層厚度的測(cè)量方法有多種

其中X射線熒光法是無接觸無損測(cè)量

測(cè)量范圍廣

X射線法可測(cè)極薄單鍍層、雙鍍層、合金鍍層

且不受底材影響。

各種金屬或塑膠電子零件,五金工件,端子連接器等

在加工后為

防止生銹，或者美觀，或功能 會(huì)對(duì)零件表面

鍍銅鎳銀鋅錫及鋅鎳合金等電解鍍層

由于工藝或技術(shù)問題，會(huì)出現(xiàn)有的地方鍍的厚一些

有的地方薄一些

這樣就會(huì)導(dǎo)致零件鍍層厚度需要一種測(cè)厚儀

這種儀器就是鍍層測(cè)厚儀

測(cè)量原理：

物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后

由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來

而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量儀或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析。

XRF-2000電鍍測(cè)厚儀韓國先鋒膜厚儀

型號(hào)規(guī)格如下圖:

XRF-2020測(cè)厚儀韓國Micropioneer膜厚測(cè)量儀

產(chǎn)品功能：

韓國XRF-2020電鍍層測(cè)厚儀